400-021-2569
北京清检检测技术集团有限公司
电话：400-021-2569
邮箱：qingjiantest@tsing-qj.com
地址：北京市海淀区王庄路1号（清华大学东南、北临清华东路）清华同方大厦
镜头检测检测范围相机镜头,手机镜头,单反镜头检测项目杂光、解析度、畸变、点光源、漏光、 AWB白平衡、Gray灰阶、动态范围、AE曝光收敛范围、色彩还原、工频干扰、暗角测试、坏点&黑点测试、信号噪点比清检仪器介绍：三维测量仪为UA3P，精度达到微米量级，红外光谱跟三维形貌需要可读格式的全部原始数据，并且对手机镜头
400-021-2569 立即咨询镜头检测
相机镜头,手机镜头,单反镜头
杂光、解析度、畸变、点光源、漏光、 AWB白平衡、Gray灰阶、动态范围、AE曝光收敛范围、色彩还原、工频干扰、暗角测试、坏点&黑点测试、信号噪点比
清检仪器介绍：三维测量仪为UA3P，精度达到微米量级，红外光谱跟三维形貌需要可读格式的全部原始数据，并且对手机镜头CT进行标记。
GB/T 9917.1-2002照相镜头第1部分:变焦距镜头
GB/T 9917.2-2008照相镜头第2部分:定焦距镜头
GB/T 22064-2008显微镜35mm单反照相机镜头的接口
GB/T 27660-2011光学传递函数于办公复印机用镜头
GB/T 29297-2012数字投影机球幕投影鱼眼镜头技术条件
CB 1234-1993潜艇对空导航潜望镜头部球面罩装置试验
GA/T 1352-2018视频监控镜头
JB/T 5522-1991光学传递函数用于35mm照相机用可换镜头
JB/T 6263-2014照相镜头照相分辨率测试标板
JB/T 8247.2-1999照相镜头光圈标记
JB/T 8248.1-1999照相镜头光谱透射比的测量
JB/T 8248.2-1999照相镜头有效孔径和相对孔径的测量
JB/T 8248.3-1999照相镜头渐晕系数及像面照度均匀度测量
JB/T 8248.4-1999摄影镜头杂光系数测量
JB/T 8248.5-1999照相镜头焦距的测量
JB/T 8248.6-1999照相镜头照相分辨率测定
JB/T 8251-1999照相镜头的色贡献指数
介绍X射线光电子能谱（XPS）是分析物质表面化学性质的一项技术，也作为电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术，可测量材料中元素组成、经验公式、元素化学态和电子态，常常和俄歇电···
介绍同步辐射吸收谱，也称X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure，XAFS），一般用于反应样品中单个元素的价态情况、单个原子的配位环境、单···
项目介绍划痕测试是常用的测试表面膜与基体材料之间结合强度的标准方法之一。以硬度大于表面膜的材料制成尖头在样品或工件表面上划痕，向划头上增加载荷直到膜和基材脱离接触，此时载荷即为临界···
核磁成像（Magnetic Resonance Imaging，MRI），也称为磁共振成像，是一种利用原子核在磁场中的磁共振现象来生成内部结构图像的医学影像技术。**一、原理**1···
一、检测预览清检检测，专业第三方检测机构，可进行硅钢、铜、空气、磁、镍、导体、不锈钢等磁导率检测,根据磁导率检测标准对磁导率进行多方位的检测，7-15个工作日便可出具磁导率检测报告···
