北京清检检测技术集团有限公司欢迎您!
400-021-2569
服务项目
您当前位置:首页 >> 服务项目 >> 检测服务 >> 可靠性测试
联系方式

北京清检检测技术集团有限公司

电话:400-021-2569

邮箱:qingjiantest@tsing-qj.com

地址:北京市海淀区王庄路1号(清华大学东南、北临清华东路)清华同方大厦

低温测试

项目介绍低温测试的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制,是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。低温条件下试件的失效

400-021-2569 立即咨询

低温测试

项目介绍

低温测试的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制,是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。

低温条件下试件的失效模式:产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。

 

低温的影响

1、使材料发硬变脆;

2、润滑剂粘度增加,流动能力降低,润滑作用减小;

3、电子元器件性能发生变化;

4、水冷凝结冰;

5、密封件失效;

6、材料收缩造成机械结构变化。

 

应用范围

低温测试主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。

 

方法标准

GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》

IEC 60068-2-1:2007《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》


上一篇:高温测试
下一篇:冷热冲击

相关阅读

集成电路质量鉴定

鉴定范围可以提供多晶硅、单晶硅、半导体原材料、半导体器件引线框架集成电路相关的鉴定服务,在产品设计分析、负荷分析、产品质量分析以及事故原因分析方面做出准确鉴定。在集成电路领域积累了···

防爆检测

在工业生产过程中,爆炸事故时常发生,给人们的生命和财产带来巨大损失。为了有效防范爆炸事故,防爆检测应运而生。防爆检测不仅可以保障工业安全,还能够提高生产效率和降低事故发生的概率。本···

冷热冲击

项目介绍冷热冲击即高低温冲击测试,是将试验样品暴露在高温和低温的连续交替环境中,使其在短时间内经历温度急剧变化,考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性。冷热冲击测试是装备设计定型的···

配方还原

项目介绍配方还原是指通过综合性的实验和直接激光飞秒检测方法,对未知物样品进行定性和定量的测试分析,从而获得其精准原始配方的过程,是产品开发的反过程。配方分析在日本,欧美应用比较广泛···

紫外光电子能谱(UPS)

介绍紫外光电子能谱(UPS)是以紫外线为激发光源的光电子能谱。其原理是基于爱因斯坦的光电定律。用惰性气体放电产生的紫外光(最常用的低能光子源为氦Ⅰ和氦Ⅱ)照射试样,使试样中原子或分···

客户服务
免费回电
咨询电话
时间:8:00-18:00
电话:400-021-2569

售后电话
时间:8:00-18:00
电话:400-021-2569
免费咨询
预约售后
顶部